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Luna 6415光器件分析儀采用光頻域反射技術（OFDR），通過探測背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數關系。Luna 6415作為光子集成電路和硅光芯片的理想分析儀，得益于其超高的靈敏度和空間分辨率（20μm）。Luna6415單臺儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長度等所有測試，大大降低了測試成本，同時簡化了測試流程。相比其它測試系統，將大大增加測試產量。
回損（RL）和插損（IL）分析
反射和透射模式分析器件
光路長度方向上的回損分布
RL和IL的光譜分析
探測和精準定位反射事件和測量光路長度（長達100米）
優化生產測試的速度、空間分辨率和精度：20μm采樣分辨率
RL空間分布測試
IL自動測試和分析
延遲測量分辨率可達亞皮秒
PLCs、光波導器件、AWGs和ROADMs等測試
耦合器、光開關和分束器等測試
