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VFI 是一種干涉檢測系統，專為檢查切割或拋光光纖的表面質量和平整度而設計。 用戶可以在 2D 和 3D 的各種不同視圖中查看其光纖，從而讓用戶全面了解其切割或拋光過程。 VFI 干涉儀已在研究、生產和 QA 中一遍又一遍地證明了自己，我們從用戶那里得到的反饋表明他們重視這些功能：
